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STRESSTECH 磁性效应分析仪、X光绕射分析仪

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Rollscan:

Rollscan读值利用BN Amplitude应用于研磨制程中,是避免研磨过程中产生硬度的变化及残留应力。非破坏的检测方式可以快速且安全的找到最佳的研磨参数。

应用范围:
利用Barkhausen传感器,主要应用于可产生磁性的金属工件上,可以检测如齿轮、轴承、凸轮轴、曲柄轴、活塞、销钉等研磨加工制程控制、热处理制程控制、材质的缺陷及残留应力。 广泛应用于各大车厂之传动系统零组件生产制造厂、航天产业如器落架检测。

特性:

  • 当传感器施予磁场于铁磁产材质上,此时会产生BarkhausenNoise的效应,经由电子讯号转换放大后,由仪器显示读值。
  • 应用于热处理时,若Austenitizing(沃斯田铁过程)温度太低,则微结构及硬度无法达到预期的目的,此时Rollscan读值高,Rollscan可以协助改善热处理参数。
  • 正确的渗碳时Rollscan读值低
  • 微结构的改变,如martensite(麻田散铁)含Ferrite(肥粒铁),因为Ferrite材质较软,因此Rollscan读值高。
  • 参考影片如下


Prism 3:应用ESPI(雷射散斑)钻孔法测量残留应力

PRISM3 雷射散班钻孔残留应力分析
热处理、机械加工、焊接、珠击和研磨等制造流程会在制造的零件中产生残余应力。钻孔是一种有效的方法,可以快速测量这些应力,并以较大深度的应力深度分布图进行测量。 Prism 3 是最先进的残留应力测量ESPI 钻孔系统。
Prism 3 系统利用样品表面漫射、反射的雷射光,以光学方式测量表面变形。每次钻孔后产生的表面变形加以分析和计算,以测量其残留应力。该系统利用雷射的非接触式电子散斑干涉法 (ESPI) 原理来取得表面位移量。

 


X STRESS DR45X光绕射仪:

最先进的X光绕射仪
残留应力测量,小于45秒就能出残留应力结果(MPa)
满足或超过ANSI N43.3-1993和其他开放式X射线操作行业标准。
Xstress DR45配备2D探测器和透过自动旋转实现多个测量方向,是一款完美的 X 射线绕射仪,可快速准确地测量残应力,并提供广泛的高质量数据以供分析。它非常适合质量控制、工业制程监控和实验研究。

45 秒内即可获得残余应力结果 (MPa)(1 mm collimator, Cr tube, hardened tool steel, 5/5 tilts)
•即使是晶粒尺寸或织构较大的难处理材料,也能快速测量残留应力
•可在合理时间内以较小的光斑尺寸(spot size)进行测量,标配0.5-4mm
•在改良的χ和Ω测量几何结构中,采用传统且成熟的 sin²ψ测量方法透过自动旋转实现多方向测量
•从多个方向测量残余应力,进而计算主应力
•旋转振荡功能可提高难处理材料的测量精度
进阶附加功能
• 2D强度分析,可用于评估晶粒尺寸和组织结构
•符合 EN 15305:2008 标准
•增强型(FWHM) 分析,用于硬度评估
•连续扫描模式测量
模块化系统让您可以购入基本功能后,依需求灵活升级。Xstress DR45还提供如残余沃氏田铁测量和自动映像(Mapping)功能等选配。


特性:
使用Xstress DR45测量残余应力,不需要博士学位才能操作,对所有的使用者友善。

  • 频繁测量模块
  • 硬件状态概述
  • 测量可视化
  • 参考影片如下