半導體檢測
    Semi-Conductor
超音波檢查 X光檢查  
Hitachi Fine SAT 是針對研發、品質與生產線上多樣及大量檢測需求而設計,為一操作簡易靈活、高品質、量產型機台。 超音波可用來檢測、解析IC 半導體及半導體封裝、光電、電子零件組裝、印刷電路板 (Printed circuit boards, PCB) 。 TXI (True X-Ray Intensity): 此功能為YXLON先進專利設計
 
XYZTEC Condor多功能推拉力機
•針對客戶應用設計和提供不同的推力及拉力測試模組.
•四合一功能模組(RMU)可自動選擇要使用的量測模組及推刀和勾針.
•操作員無須手動更換量測模組和測試工具.
•可經由電腦選擇欲使用之量測模組和測試工具.
•在某些條件下,可自動執行各種不同的應用及測試.
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