| 精密光學儀器 |
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| Optical |
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| 光斷面深/ 高度測定機 |
NISSHO 光斷面深 / 高度測定機其原理是利用 45 度的光線投射於待測物(Sample) 的表面上，光線會隨著待測物表面的高低起伏而變化，進而測量深/ 高度。
主要應用於測量晶圓溝槽深度／LCD 框膠. 點膠的厚度／BGA 的錫球高度／導線架蝕刻深度，及精密加工業微小工件高度檢查等。
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產品特性:
使用光斷面原理，高、低段差同時顯示Z 軸，精度可達 ± 1umX.Y，平台移動行程達 410mm×360mm
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日商精密光學株式會社成立於1960年代，於精密測定及觀察用光學機械類製造具多年經驗，更致力於特殊光學系統的開發，包含二重焦點、二視野、曲率測定等顯微鏡。
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