採用光學 Z 軸對焦符號非接觸式檢測待測物 (sample) 高度 / 深度， 避免造成待測物 (sample) 刮傷或變型。 可加裝測量軟體，並運用量測統計分析 (SPC) 管制、 WORD 、 EXCEL 快速製作量測報告。 可單獨選購 Z 軸對焦符號，加裝到其它三次元工具顯微鏡，有 效提高 Z 軸精度。 應用範圍： 錫球高度 金線弧高 銅箔高度 晶圓高度、深度 電子、機械各類產品高度 / 深度檢測   Z 軸對焦符號 　 對焦 失焦 多種標準測定平台可供選擇 CK-300: X 、 Y 底座有效行程： 300x300mm

Kunoh 於日本從事研究設計各種檢驗光學及精密測量設備，隨著產業的發展，開發符合客戶對 Z 軸量測所需的產品，除了三次元工具顯微鏡，於2004 年更因應光電產業發展所需，推出鏡片偏心測定儀，其雙面量測功能獨步於現今鏡片偏心測定儀器，為專業鏡片製造及下游廠商提供快速量測及良率改善的重要依據。