| 非破壞性檢測系統 |
 |
| NDT |
|
|
|
|
| HITACHI Fine SAT II 超音波映像/檢查裝置 |
Fine SAT 是針對研發、品質與生產線上多樣及大量檢測需求而設計，為一操作簡易靈活、高品質、量產型機台。
超音波可用來檢測、解析IC 內部不同位置的脫層、 氣洞、 裂痕及粘著狀況，隨著IC 的微細化發展，超音波也將朝向高頻，高Dumping、超微細Beam的方向發展，Hitachi 的 ZnO 探頭可為大家提供超高頻率的映像檢測與解析，同時可提供精細的立體檢測與解析。
AT/UT 機型提供大型物品及LCD週邊產業內部架構之觀測，不同尺寸的水槽與自行研發獨一無二的軟體，有助於在生產線上或是製程線上多樣化的檢測 。
| |
|
| |
|
|
|
| |
|
特性：
•高品質(Fine)：最新開發 500MHz 超音波探傷儀，大幅提高影像品質，高精密度掃瞄，可產生 0.5 μm解析度圖形 6 千 7 百萬畫素 ( 8192 x 8192 )。
•快速 (Fast)：掃瞄機速度高達 1000mm/sec，較傳統增加 67%，搭配加大掃瞄區域，增加其單位處理量。
•彈性 (Flexible)：配合各種需求可搭配各式探頭(Probe) ，提供更強的客製功能與使用的方便性 。
產品功能：
•立體傾斜式掃瞄 ( S-image，日立專利)： 幫助更容易取得焦點位置。
•多重影像、參數儲存 ( Image Index ，日立專利)：所有參數可以與影像同時儲存，對於類似待測物(Sample) 可迅速取得影像。
•自動多層掃瞄 ( Auto Lamina Image)： 在既定的高度範圍內，可取得多達64層對焦影像。
•即時 3D 影像( Real –Time 3D imaging )：電腦重建 3D 圖型後，可針對任何切面進行分析。
•完整的探頭 ( Probe ) 組合
|
|
|
|
|
| |
|
|
|
|
|
在1999 年成立於日本，其開發出超音波映像裝置，Microfocus X-ray 裝置，進而加入原子力顯微鏡 (AFM )， 雷射加工機等先進產品的開發，遍及各產業領域的生產、檢查系統。
>> 超音波映像裝置
>> 超音波檢查裝置
|
|
|
|
|
| |
| |
|
|
|
|
|
|
