Creden WIS3000 第二光學檢查系統 應用範圍: 半導體及相關電子產業前、後段製程對晶圓品質的檢驗 (最高至12吋) 特性: 提供 Win2000 GUI 操作平台， 使用方便、有效管理。 使用圖型(Mapping) 模式顯示， 取代傳統單純以人工方式墨水做記號的不便及疏失，亦節省成本。 提高時間單位產值( Unit Per Hour，UPH） 檢查模式標準化 所有檢查數據均可與其他製程連線傳輸 Creden ISP 3000 第三光學檢查系統 應用範圍: 適用於半導體、電子相關產業對晶片粘著及接線品質的管控。 特性: 特別適合 QFN / MLF / MLP / COB 等晶片尺寸較小的產品檢驗。 檢查方式包含100% 全檢及隨機抽樣檢驗 具備手動及自動檢驗模式 可依不同權限設定密碼保護 本機搭配的光學顯微鏡和電腦顯示系統，可提供即時 (Real Time) 數據。 提供 1000 個以上的檢查結果分類 自動上、下料系統 依客戶需求，可於產品表面做非破壞性記號或破壞性 (例如: 打孔、劃線等)標示，以玆辨別。

成立於1999年，總部設於馬來西亞，主要提供半導體品管及光學檢測設備，除一般標準產品外，更可依客戶不同需求提供全方位服務包含軟、硬體設計、製造、OEM，客戶群包含 ASE、Agilent、Amkor、Infineon、Philips、TI 等公司。