| 非破壞性檢測系統 |
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| Stresstech X-Ray 繞射儀 |
X 光繞射根據原子間的距離變化測量殘餘應力,並且測得 Austenite 殘留。
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X STRESS 3000 X- ray 繞射儀:
X 光繞射根據原子間的距離變化測量殘餘應力,並且測得 Austenite 殘留。
特性
• 測角器 Goniometer 手提式且可傾斜及旋轉、兩個獨特對稱性光電探測器、可快速調整 2 θ角。
• 為市場上最小的控制中心,包含電腦控制、高壓產生器、內循環冷卻系統。
• 散射輻射低安全距離短。
• 簡易的軟體操作介面。
• 可依客戶需求設計合適的設備,提供量測服務
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Stresstech 集團的銷售網路涵蓋芬蘭 Stresstech Oy ,美國 American Stress Technologies, Inc. (AST)及德國 Stresstech GmbH 所組成,主要產品為 (Barkhausen effect) 磁性效應分析儀含各式感測器及 X 光繞射分析儀等非破壞檢測儀器。 廣泛使用在金屬工業、汽車業及航太業。 |
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