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Hitachi Fine SAT 是針對研發、品質與生產線上多樣及大量檢測需求而設計,為一操作簡易靈活、高品質、量產型機台。
超音波可用來檢測、解析IC 內部不同位置的脫層、 氣洞、 裂痕及粘著狀況,隨著IC 的微細化發展,超音波也將朝向高頻,高Dumping、超微細Beam的方向發展..... |
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半導體及半導體封裝、光電、電子零件組裝、印刷電路板 (Printed circuit boards, PCB) 。
TXI (True X-Ray Intensity): 此功能為YXLON先進專利設計,可以有效控制 input tube 的高壓及電流,獨特的 TXI 密迴路的控制,提供穩定的X-Ray 強度輸出,進而有恆定的 focal spot size 及解析度,無論何時都能取得一致的銳利影像.....
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