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CHUO 光學微細缺陷量測儀

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特性:
  • 光學解析度1.8um,高速檢測,提高產品良率。
  • 可自動量測、觸控面板、ITO、線寬缺陷,及其他金屬表面等各種細微缺陷檢測。
  • 可存取量測數據。
  • 可達客製化量測功能及需求。

特點:

檢測用途共三點


規格表:

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