Language:
半導體
/ LED檢測設備
簡圖 產品 主要運用 聯絡勤友

AXOMETRICS
影像式橢圓儀設備

解決光譜橢偏儀的量測限制。將光譜橢偏儀與顯微鏡結合,使量測區域縮小至3μm x 3μm。
FSM 128/500/900
薄膜應力量測設備
量測薄膜沉積的均勻性、厚度,以及殘留應力,避免應力釋放時導致的材料破壞
FSM 413 /8108
多層厚度量測設備
廣泛適用於半導體、電子、LED、太陽能、FPD平板顯示器、MEMS等產業的材料厚度、形貌量測。
HISOL
探針儀 / 複晶焊接機
提供半導體研發或電性異常分析之用…。
Hitachi Power Solutions
超音波檢查SAT
(Scanning Acoustic Tomograph)
提供各式產業設備、檢查機具、及保養、檢查服務…。
INSIDIX
溫度型變系統
摸擬泛電子、半導體等產品於不同溫度下所產生的型變測量…。
Kohyoung
3D自動光學檢測設備
半導體之產品外觀檢查:產品表面異物檢測、wafer切割道裂痕、Die bond之Die Crack、Shift、Tilt、Bump size、SMT銲錫之體積、爬錫、橋接等外觀瑕疵檢查。
RADIANT
雷射開蓋機
在封裝廠品保或實驗室失效異常分析使用
SURAGUS
晶圓金屬層阻值\厚度量測機
德國Suragus專門為非破壞性材料測試提供解決方案…。
XYZTEC
推拉力機
廣泛使用於半導體、LED、太陽能晶片封裝的品質測試…。
YXLON. International
X-ray 檢查系統
半導體及半導體封裝、光電、電子零件組裝、印刷電路板、金屬、航太、汽車、塑膠、精密陶瓷工業及醫療…。