| 品牌 | 簡圖 | 產品 | 主要運用 | 聯絡勤友 |
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AXOMETRICS 影像式橢圓儀設備 |
解決光譜橢偏儀的量測限制。將光譜橢偏儀與顯微鏡結合，使量測區域縮小至3μm x 3μm。 |  |
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AXOMETRICS 光斑式橢圓儀設備 |
光斑式量測，搭配大尺寸stage(12”)，單機可達成穿透與反射量測模式，不僅運用於量測偏振狀態、相位差….等，也適用於LCOS量測。 | |
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FSM 128/500/900 薄膜應力量測設備 |
量測薄膜沉積的均勻性、厚度，以及殘留應力，避免應力釋放時導致的材料破壞 | |
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FSM 413 /8108 多層厚度量測設備 |
廣泛適用於半導體、電子、LED、太陽能、FPD平板顯示器、MEMS等產業的材料厚度、形貌量測。 | |
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HISOL 探針儀 / 複晶焊接機 |
提供半導體研發或電性異常分析之用…。 | |
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Hitachi Power Solutions 超音波檢查SAT (Scanning Acoustic Tomograph) |
提供各式產業設備、檢查機具、及保養、檢查服務…。 | |
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INSIDIX 溫度型變系統 |
摸擬泛電子、半導體等產品於不同溫度下所產生的型變測量…。 | |
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Kohyoung 3D自動光學檢測設備 |
半導體之產品外觀檢查：產品表面異物檢測、wafer切割道裂痕、Die bond之Die Crack、Shift、Tilt、Bump size、SMT銲錫之體積、爬錫、橋接等外觀瑕疵檢查。 | |
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RADIANT 雷射開蓋機 |
在封裝廠品保或實驗室失效異常分析使用 | |
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SURAGUS 晶圓金屬層阻值\厚度量測機 |
德國Suragus專門為非破壞性材料測試提供解決方案…。 | |
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XYZTEC 推拉力機 |
廣泛使用於半導體、LED、太陽能晶片封裝的品質測試…。 | |
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YXLON. International X-ray 檢查系統 |
半導體及半導體封裝、光電、電子零件組裝、印刷電路板、金屬、航太、汽車、塑膠、精密陶瓷工業及醫療…。 | |